Ein Rasterkraftmikroskop ist ein Gerät, welches eine Oberfläche abrastert und an jedem Punkt spezifische Informationen erfasst. Die Oberflächencharakterisierung bietet die Möglichkeit, verschiedene Materialeigenschaften lokal miteinander zu verknüpfen.
Mittels Rasterkraftmikroskopie kann die Mikrostruktur von Oberflächen bis in den Nanometermaßstab abgebildet.
Das AFM-Mikroskop wird in einer Vielzahl von Disziplinen wie Festkörperphysik, Halbleiterwissenschaften, Molekulartechnik, Chemie und Polymerphysik, der Molekulare Biotechnologie, Zellbiotechnologie und Medizin eingesetzt.
Die Änderungen der physikalischen Eigenschaften und der Atomanordnung durch Atommanipulation gehören zu den Anwendungen des Mikroskoptyps.
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